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粉末涂料成膜前的性能試驗(yàn)方法
1、 粒度分布 ISO 8130-1:1992用篩分法測定粒度分布
2、 表觀密度 GB 1636-1979模塑料表觀密度試驗(yàn)方法
3、 粉末流出性 GB 6554-2003 流出性的方法測定
4、 粉末流化流動(dòng)性 ISO 8130-5:1992粉末/空氣混合物流動(dòng)性的測定方法
5、 軟化溫度 GB 6554-2003科夫爾熱板法
6、 膠化時(shí)間 GB/T 16995-1997 熱固性粉末涂料在給定溫度下膠化時(shí)間的測定
7、 不揮發(fā)物含量 GB 6554-2003 不揮發(fā)物含量的方法測定
8、 熔融流動(dòng)性 ISO 8130-11:1997 傾斜板流動(dòng)性的測定(具體內(nèi)容暫缺)
粉末涂料成膜后的性能試驗(yàn)方法
1、 沖擊強(qiáng)度 GB 1732-93漆膜耐沖擊測定法(具體內(nèi)容暫缺)
2、 硬度 GB/T 6739-1996 涂膜硬度鉛筆測定法
3、 劃格試驗(yàn) GB/T 9286-1999 色漆和清漆漆膜的劃格試驗(yàn)
4、 杯突試驗(yàn) GB 9753-88色漆和清漆杯突試驗(yàn)
5、 耐彎曲性 GB/T 6742-86 漆膜彎曲試驗(yàn)(圓柱軸)
6、 邊角覆蓋率 GB 6554-2003邊角覆蓋率的試驗(yàn)方法
7、 光澤 GB/T 9754-1988色漆和清漆 不含金屬顏料的色漆 漆膜元20°、60°和85°鏡面光澤的測定
8、 涂層氣孔率(均均勻性試驗(yàn))GB 6554-2003 涂層氣孔率的方法試驗(yàn)
9、 耐磨試驗(yàn) GB 1768-79
10、 耐化學(xué)藥品等性能GB 6554-2003耐化學(xué)藥品性試驗(yàn)
出廠粉末涂料常規(guī)檢測項(xiàng)目表
粉末涂料成膜前的性能試驗(yàn)方法
1、 粒度分布 ISO 8130-1:1992用篩分法測定粒度分布
2、 表觀密度 GB 1636-1979模塑料表觀密度試驗(yàn)方法
3、 粉末流出性 GB 6554-2003 流出性的方法測定
4、 粉末流化流動(dòng)性 ISO 8130-5:1992粉末/空氣混合物流動(dòng)性的測定方法
5、 軟化溫度 GB 6554-2003科夫爾熱板法
6、 膠化時(shí)間 GB/T 16995-1997 熱固性粉末涂料在給定溫度下膠化時(shí)間的測定
7、 不揮發(fā)物含量 GB 6554-2003 不揮發(fā)物含量的方法測定
8、 熔融流動(dòng)性 ISO 8130-11:1997 傾斜板流動(dòng)性的測定(具體內(nèi)容暫缺)
粉末涂料成膜后的性能試驗(yàn)方法
1、 沖擊強(qiáng)度 GB 1732-93漆膜耐沖擊測定法(具體內(nèi)容暫缺)
2、 硬度 GB/T 6739-1996 涂膜硬度鉛筆測定法
3、 劃格試驗(yàn) GB/T 9286-1999 色漆和清漆漆膜的劃格試驗(yàn)
4、 杯突試驗(yàn) GB 9753-88色漆和清漆杯突試驗(yàn)
5、 耐彎曲性 GB/T 6742-86 漆膜彎曲試驗(yàn)(圓柱軸)
6、 邊角覆蓋率 GB 6554-2003邊角覆蓋率的試驗(yàn)方法
7、 光澤 GB/T 9754-1988色漆和清漆 不含金屬顏料的色漆 漆膜元20°、60°和85°鏡面光澤的測定
8、 涂層氣孔率(均均勻性試驗(yàn))GB 6554-2003 涂層氣孔率的方法試驗(yàn)
9、 耐磨試驗(yàn) GB 1768-79
10、 耐化學(xué)藥品等性能GB 6554-2003耐化學(xué)藥品性試驗(yàn)
出廠粉末涂料常規(guī)檢測項(xiàng)目表
檢測內(nèi)容 |
技術(shù)標(biāo)準(zhǔn) |
檢測結(jié)果 |
檢測儀器 |
外觀 |
允許輕微的桔皮 |
合格 |
目測 |
粒徑 |
20~90μm |
>95% |
激光粒度分布儀 |
流化狀態(tài) |
沸騰狀態(tài) |
好 |
流化儀 |
光澤 |
高光(90±5)% |
合格 |
光澤儀 |
附著力 |
GB/T9286-86 |
0級(jí) |
劃格器 |
沖擊試驗(yàn) |
GB1732-93 |
合格 |
沖擊儀 |
彎曲試驗(yàn)(錐形軸) |
GB/T1185-88 |
涂層無裂縫 |
彎曲儀 |
杯突 |
GB/9753-88 |
合格 |
ERICJSEN儀 |
鉛筆硬度 |
GB/T6739 |
≥H |
中華H鉛筆 |
所有機(jī)械性能試驗(yàn)均采用除油磷化鐵試驗(yàn)樣板,膜厚50~80μm實(shí)驗(yàn)室條件下完成 |